Introduzca los detalles del producto (como color, tamaño, materiales, etc.) y otros requisitos específicos para recibir un presupuesto exacto.
dejar un mensaje
Si le interesan nuestros productos y desea obtener más información, deje un mensaje aquí y le responderemos lo antes posible.
1

Máquina de inspección de apariencia de chips y unión de cables de alto rendimiento

La máquina HY-BI300P Aoi está equipada con El equipo de control de calidad 2D+3D de dimensiones completas posterior al empaquetado de semiconductores abarca todos los defectos en la unión de cables (unión de cables de oro/aluminio) y la apariencia del chip.

 

  • Marca :

    HYRNUS
  • Número de artículo :

    HY-BI300P
  • Pedido (cantidad mínima de pedido) :

    1 Set
  • Garantía :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Pago :

    T/T
  • Plazo de entrega :

    7-35 Days
  • Origen del producto :

    China
  • Máquina de inspección de apariencia de chips y unión de cables de alto rendimiento

    Introducción del producto

    Máquina de inspección de apariencia de chips y unión de cables HY-BI300PEs adecuado para electrónica automotriz, de grado industrial, electrónica de consumo y otros escenarios, logrando una inspección completa al 100 % y la trazabilidad de los datos, lo que ayuda a las plantas de empaquetado y prueba a mejorar el rendimiento, reducir los costos y aumentar la eficiencia.

    Escenarios de aplicación

    Configuración 3D de alta gama para líneas de productos complejas/de alta gama: se utilizan cámaras duales para ofrecer por separado inspección 2D de alta precisión e inspección 3D de alta velocidad.

    Adecuado para líneas de producción con portadores de gran tamaño, cavidades profundas y requisitos más estrictos para la altura del bucle de alambre y la morfología de la bola de oro, como memorias de gama alta, dispositivos TR, dispositivos de potencia, etc.

    Características clave del algoritmo y del rendimiento

    Los algoritmos de nube de puntos superan los desafíos de imagen en escenarios con cables cruzados y gran profundidad de campo. La inspección de modo dual 2D+3D permite que el 2D cubra defectos de apariencia completa, mientras que el 3D mide con precisión la altura del bucle del cable para cumplir con los estrictos estándares de inspección para productos de alta gama. Con la adquisición de imágenes multicapa y la evaluación de defectos basada en el porcentaje de ancho del cable, el sistema desbloquea el enlace de datos y crea una gestión de bucle cerrado de proceso completo de "inspección en tiempo real - análisis preciso - optimización del proceso".

    Fuente de luz multicanal RGB

    Tecnología de fusión multicanaloptical inspection equipment

    Algoritmo de extracción de hilo de oro


    Captura de vuelo a alta velocidad

    Síntesis de enfoque ultraprofundoaoi test

    Inspección 3D de alta precisión


    Programación asistida por IAautomated optical inspection


     

    Reevaluación del resultado de la inspecciónmentoaoi machine

    Características del producto

    Cortocircuito entre cables, bucle de cable anormal, cable roto, desplazamiento de la bola de oro/aluminio, unión fría, diámetro de cable desigual

    Arañazos superficiales, desconchones, partículas extrañas, residuos de adhesivo, grietas, mal marcado

    Oxidación de la almohadilla, contaminación, desviación dimensional

    Resuelve problemas de inspección de cables cruzados de una sola capa

    Admite algoritmos multicapa y detección de defectos en porcentaje de ancho de cable.

    Supera significativamente a la tecnología tradicional de escaneo lineal 3D en precisión y velocidad de fotogramas.

    Admite producción independiente fuera de línea o en línea.

    Algoritmo de nube de puntos de desarrollo propio + tecnología de fusión de ultra profundidad de campo para la inspección de la apariencia de las uniones de cables y los chips en escenarios de cables cruzados y de ultra gran profundidad de campo.

    Interfaz portátil y fácil de usar con programación guiada.

    Especificaciones clave

    ArtículoEspecificación
    Resolución de píxeles3,2 μm
    Precisión de inspección 2D±2 μm
    Inspección completa100%
    Medición de la altura del bucle±10 μm
    Resolución de píxeles 2D2,5 μm
    Campo de visión (FOV) 2D10 mm × 10 mm
    Resolución de píxeles 3D3,2 μm
    Campo de visión 3D (FOV)22 mm × 22 mm
    Profundidad de campo200 μm
    Dimensiones de producto compatibles50~300 mm (largo) × 50~300 mm (ancho) × 0,1~30 mm (alto)

    Especificaciones de parámetros

    ArtículoParámetro
    Nombre del equipoMáquina de inspección visual de uniones de alambre y matrices
    ModeloHY-BI300P
    Precisión 2D/3D2D: 2,5 µm
    3D: 3,2 µm
    Campo de visión2D: 10 mm × 10 mm
    3D: 22 mm × 22 mm
    Defectos detectables en las uniones de soldaduraAncho del defecto ≥ 3 píxeles, contraste ≥ 30 bits: Sin unión, desplazamiento de unión, tamaño de unión, grosor de unión, defecto de pelota de golf
    Defectos detectables en los cablesAncho del defecto ≥ 3 píxeles, contraste ≥ 30 bits: Cableado incorrecto, cable faltante, cable roto, desplazamiento del cable (serpenteo), reconexión, comba del cable (horizontal), cable puenteado, cola adicional, comba del cable (vertical), altura del bucle del cable, espaciado entre cables cruzados
    Defectos de matriz detectablesAncho del defecto ≥ 3 píxeles, contraste ≥ 30 bits: Desconchado del chip, rotación del chip, chip faltante, grieta en el chip, mancha de tinta, desplazamiento del chip, rayadura, contaminación por material extraño, cobertura de epoxi, inclinación del chip
    Tamaño del sustrato50~300 mm (largo) × 50~300 mm (ancho) × 0,1~30 mm (alto)
    Dimensiones del equipo1400 × 1550 × 1750 mm
    Peso1500 kg ± 5%
    Potencia nominal2,5 kW

    Elementos de inspección

    Rotura de cablesBond desaparecidoArañazosDesalineación / Desviación angular
    Agrupación de cablesDesalineación de la almohadilla adhesivaAgrietamientoDesbordamiento de pegamento de plata/epoxi
    Colapso del cableDiámetro anormal de la bolaOxidaciónDesconchado
    Arco de alambre anormalDefectos de apariencia del chipContaminaciónChip desaparecido
    Detalles del producto

    automated optical inspection systems

dejar un mensaje
Si le interesan nuestros productos y desea obtener más información, deje un mensaje aquí y le responderemos lo antes posible.

dejar un mensaje

dejar un mensaje
Si le interesan nuestros productos y desea obtener más información, deje un mensaje aquí y le responderemos lo antes posible.
Contáctanos :allen@hyrnus.com