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Máquina de prueba y clasificación de condensadores de chip para inspección visual de defectos

Clasificadora de chips HY-CS3021 es desiDiseñado para la inspección visual de defectos, pruebas de rendimiento eléctrico y empaquetado de productos terminados de componentes activos y pasivos en miniatura.

  • Marca :

    HYRNUS
  • Número de artículo :

    HY-CS3021
  • Pedido (cantidad mínima de pedido) :

    1 Set
  • Garantía :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Pago :

    T/T
  • Plazo de entrega :

    7-35 Days
  • Origen del producto :

    China
  • Máquina de prueba y clasificación de condensadores de chip para inspección visual de defectos

    Introducción del producto

    Máquina de prueba y clasificación HY-CS3021Se especializa en estas funciones para condensadores de chip, incluyendo SLC, condensadores de matriz, MLC, condensadores de silicio y otros tipos. Satisface los requisitos de alta precisión, alta compatibilidad e inteligencia para la producción a gran escala de componentes semiconductores en miniatura, y es un equipo clave para mejorar la calidad de salida y la eficiencia de producción de los condensadores de chip.

    Capacidades y beneficios clave

    La máquina de prueba y clasificación HY-CS3021 adopta una arquitectura totalmente modular con una estructura configurable libremente y piezas de desgaste modulares, lo que permite un cambio rápido y la adaptación a la conmutación de productos con múltiples especificaciones. Al integrar algoritmos tradicionales consolidados con tecnología de inspección por IA y autoenfoque CCD, logra una precisión de reconocimiento de ≥5 μm, admite la inspección de apariencia de 2 o 6 caras y detecta con precisión defectos como oxidación de electrodos, arañazos y astillamiento de esquinas.

    sorting machine

    Escenarios de aplicación

    Condensadores de chip de una sola capa (SLC)

    Condensadores de chip multicapa (MLC/MLCC)

    condensadores de silicio

    Redes RC

    Condensadores de chip en matriz

    Especificaciones técnicas

    ArtículoEspecificación
    ModeloHY-CS3021
    Tamaño del producto0,2 mm × 0,2 mm ~ 10 mm × 10 mm
    Formatos de entradaA granel / Oblea
    Formatos de salidaPaquete de gofres / Paquete de gel / Oblea
    Equipo UPH≥ 5K (tiempo de prueba ≤ 200 ms)
    Elementos principales de la pruebaCapacitancia, factor de disipación, resistencia de aislamiento, tensión de resistencia
    Precisión en la colocación del paquete de gofresEspacio lateral único ≥ 0,03 mm; tasa de éxito de colocación > 96 %
    Precisión en la colocación de la cinta azul±25 µm; ±1°
    Inspección visualPrecisión de inspección > 5 µm; detectable con contraste > 30. Defectos detectables: arañazos, desgaste, falta de recubrimiento, exceso de recubrimiento, curvatura, descamación, abolladuras, hendiduras, decoloración, contaminación, astillamiento, desplazamiento de la posición del electrodo, etc.
    Dimensiones del equipo1500 mm (largo) × 1300 mm (ancho) × 1900 mm (alto)

    Detalles del producto

    chip sorter machinechip sorterwafer sortersemiconductor handler

    chip sorter

     

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