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Microscopio de medición metalúrgica de semiconductores para la inspección de encapsulados de circuitos integrados

El HY-TM200 Microscopio de medición metalúrgica de semiconductores Combina observación óptica, imagen digital y medición de precisión. Permite la inspección en campo claro y campo oscuro con una precisión de posicionamiento de hasta ±0,1 μm. El sistema es adecuado para medir esferas de oro, bucles de alambre, encapsulados de circuitos integrados, placas de circuito impreso y otros componentes electrónicos en aplicaciones de control de calidad e I+D.

  • Marca :

    HYRNUS
  • Número de artículo :

    HY-TM200
  • Pedido (cantidad mínima de pedido) :

    1 Set
  • Garantía :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Pago :

    T/T
  • Plazo de entrega :

    7-35 Days
  • Origen del producto :

    China
  • Microscopio de medición metalúrgica de semiconductores para la inspección de encapsulados de circuitos integrados

     

    Introducción del producto

    El HY-TM200 Microscopio de medición metalúrgica de semiconductores Está diseñado para la inspección de alta precisión y la medición dimensional de encapsulados de semiconductores, circuitos integrados, placas de circuito impreso y componentes electrónicos. Integra funciones de observación óptica, imagen digital y medición en un sistema compacto para aplicaciones de laboratorio y producción.

    Con un sistema óptico infinito, modos de observación de campo claro y campo oscuro, e imágenes CCD industriales de alta resolución, este microscopio ofrece imágenes nítidas y resultados de medición precisos. Gracias a su precisión de posicionamiento de hasta ±0,1 μm y sus múltiples funciones de medición (longitud, ángulo, radio y altura), resulta ideal para el control de calidad de semiconductores, el análisis de fallos y la I+D. Se encuentran disponibles accesorios personalizados para adaptarse a diversos requisitos de inspección.

     

    Especificaciones del producto

    ArtículoDetalles
    ModeloHY-TM200
    Dimensiones700 x 800 x 800 mm
    Peso85 kg
    Dimensiones del vidrio230 x 160 mm
    Dimensiones del escenario358 x 258 mm
    Gama de viajes200 x 100 x 150 mm
    Resolución de escala de rejillaEje Z:±0,1 µm Eje XY:±0,5 µm (opcional)±0,1 µm)
    Sistema ópticoSistema óptico de distancia focal infinita
    Tipo de movimientoManual
    Objetivos5X, 10X, 20X, 50X
    Ocular10X
    Campo de visiónImagen invertida
    Métodos de observaciónModos de campo claro y campo oscuro, conmutables libremente.
    Fuente de luz de superficie/inferiorIluminación coaxial LED de 3W
    Precisión de posicionamiento XYZ±0,1 µm
    Repetibilidad XYZ±0,1 µm
    Precisión de la medición XY(3 + L/100) µm (L = longitud medida)
    Precisión de medición Z(3 + L/25) µm (L = altura medida)
    Funciones de visualizaciónSalida RS232, puesta a cero/centrado XYZ, conversión imperial/métrica, calibración de precisión
    Controlador del eje ZRueda coaxial de alta precisión para el control del movimiento vertical.
    Precisión de posicionamiento del eje Z±0,1 µm
    Voltaje de funcionamientoCA 220V
    Potencia nominal100W

     

    Funciones clave

    No.Detalles
    1Medida del diámetro de la bola de oro (medida de longitud)
    2Medición del grosor de la bola de oro (medición angular)
    3Medición del arco del hilo de oro (medición del radio)

     

    Ventajas

    ArtículoDetalles
    Componentes ópticos versátilesCompatible con componentes ópticos nacionales e importados, y admite los modos de campo claro, campo oscuro, contraste de interferencia diferencial (DIC), polarización y epifluorescencia.
    Torreta de objetivoPuede albergar hasta 5 objetivos, con aumentos de 5X, 10X, 20X, 50X y 100X para satisfacer diversas necesidades de aplicación.
    Sistema de imágenesEquipada con una cámara CCD a color de grado industrial que captura imágenes de alta calidad mediante el objetivo con zoom, las convierte en señales electrónicas y las transmite a un ordenador para su análisis.
    Unidad de visualización de datos ergonómicaDiseñado para un funcionamiento independiente con ángulo ajustable, lo que permite realizar mediciones cómodamente tanto de pie como sentado. Admite funciones de puesta a cero y centrado para una calibración de alta precisión.
    Accionamiento de husillo de precisiónIncorpora un sistema de husillo y tuerca de acero inoxidable, lo que permite un ajuste rápido y preciso para mejorar la eficiencia de la medición. Su estructura estable reduce la vibración de la plataforma y garantiza un posicionamiento más exacto.

     

    Detalles del producto

    Metallurgical Measuring Microscope

    Semiconductor Inspection Microscope

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