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Manipulador de prueba Pick&Place de semiconductores

HY-PS308 Mango de prueba de recogida y colocaciónr está diseñado para la prueba y clasificación automatizada de paquetes de semiconductores MSOP, QFN, DFN, LQFP, LGA, BGA, CSP y otros, con dimensiones que van desde 2 × 2 hasta 110 × 110 mm.

  • Marca :

    HYRNUS
  • Número de artículo :

    HY-PS308
  • Pedido (cantidad mínima de pedido) :

    1 Set
  • Garantía :

    One-Year Warranty and Lifetime Maintenance
  • Pago :

    T/T
  • Plazo de entrega :

    7-35 Days
  • Origen del producto :

    China
  • Manipulador de prueba Pick&Place de semiconductores

    Descripción general del producto

    HY-PS308 Manipulador de prueba Pick&Place Es aplicable para probar y clasificar productos MSOP, QFN, DFN, LQFP, LGA, BGA, CSP y otros con especificaciones que van desde 2x2 hasta 110x110, cumpliendo con los requisitos para pruebas y clasificación tanto a temperatura ambiente como a altas temperaturas, al tiempo que ofrece productos de alta calidad a los clientes.

    Producto Ventaja

    No.Ventaja Descripción
    1Brazo mecánico de toma y descarga: el eje Y tiene modo de accionamiento de doble cara; el eje Z tiene control independiente del motor, equipado con 2×4 boquillas de entrada y salida, paso X variable. El módulo de boquillas adopta un diseño de viga transversal, lo que garantiza la estabilidad del centro de gravedad y evita la deformación.
    2Módulo de medición de presión: equipado con cabezal flotante de precisión y sensor de apilamiento de enchufes, cálculo automático de la medición de presión, con capacidad para soportar hasta 240 kgf.
    3Módulo de transporte: Los sensores en las direcciones XY detectan con precisión si el carro de transporte está apilado o no, protegiendo así los materiales; el carro de transporte de descarga tiene la función de calentamiento de temperatura de retorno.
    4Sistema de control de temperatura: Prueba TJ: ±2; Precalentar la bandeja/transbordador: ±3; TC: ±1; 200W a -55/300W a -40/850W a 25/1150W a 85~150/ 200(Opcional).
    5Módulo de placa: la placa de alimentación está equipada con un tornillo motorizado, lo que facilita el ajuste al utilizar placas de diferentes grosores.
    6Pantalla táctil y panel de teclas con configuración frontal y trasera, compatible con la conexión de diversas máquinas de prueba de diferentes marcas.

    ic test handle

    Parámetro técnico

    ArtículoEspecificación
    Componentes adecuadosMSOPQFNDFNLQFPLGABGADimensiones del CSP: 2×2-110×110 mm
    UPHMáximo 13.5K (8 sitios, QFN4)×4)
    Estación de pruebas16/12/8/4/2/sitio único
    Prueba de compresiónMáx. 240 kgf
    Modo de conducciónAccionamiento de motor lineal
    Tiempo de índice0,42S
    Carga y descargaEntrada de bandeja + Salida de bandeja
    Bandeja300 mm×146 mm
    EstabilidadTASA DE ATASCO1/10000, MTBA>60min, MTTA<3 min, MTBF > 168 h
    Rango de temperatura50℃ – 90℃ ±2; 90℃ – 150℃ ±3; Opcional: hasta 200
    Entrada/salida de comunicacionesTTL / GPIB / RS232 / Ethernet
    Dimensiones213515452000(mm)
    Fuente de alimentaciónTemperatura ambiente: Monofásica 220V 50/60Hz 32A, potencia 7KW; Alta temperatura: Monofásica 220V 50/60Hz 32A*2, potencia 11,5KW
    Presión0,5 MPa, 550 L/min, conector rápido de 12 pines
    Peso1560 kg

    Detalles del producto

    semiconductor handler

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Contáctanos :allen@hyrnus.com